Металлографические исследования по методам светлого и темного поля в отраженном свете
Выбор микроскопа, и соответственно — методов микроскопии, зависит от того, какие объекты предполагается изучать и какими свойствами они обладают.
Основным методом исследования металлографического микроскопа является метод светлого поля в отраженном свете. Оптический микроскоп, предназначенный для данного метода наблюдения, позволяет исследовать непрозрачные, отражающие свет объекты, как например: травленые шлифы металлов или руд, разные минералы. В данном случае освещение объекта производится через объектив после того, как свет от источника поступает на отражательную сторону полупрозрачного зеркала. Затем, отразившись от объекта, свет снова проходит через объектив и полупрозрачное зеркало, которое в данном случае (в направлении оптической оси) его пропускает. Так как разные участки объекта по-разному отклоняют падающий на них свет, а отраженные лучи имеют различную интенсивность, на выходе будет получено достоверное изображение объекта.
Среди прямых металлографических микроскопов (наблюдательная часть над объектом*), работающих по данной оптической схеме, имеются Альтами МЕТ 3, Альтами МЕТ 5 и Альтами МЕТ 6, а среди инвертированных (наблюдательная часть под объектом) - Альтами МЕТ 1 и Альтами МЕТ 2.
Металлографические микроскопы, реализованные для проведения исследований по методу светлого поля в отраженном свете, относятся к классу упрощенных микроскопов. Метод светлого поля является базовым для других методов контрастирования, и для их реализации в оптической схеме необходимо располагать контрастирующие элементы, как например: диафрагма, светофильтр, анализатор и поляризатор.
Более универсальные модели, как например, Альтами МЕТ 1Т, МЕТ 3Т, МЕТ 5Т, дают возможность наблюдать объекты дополнительно и в темном поле. Такие микроскопы более дорогие, но позволяют достичь максимально высоких и точных результатов исследований.
Темнопольная микроскопия является наиболее информативной, например, при исследовании неплоскостных, пористых объектов, выявлении структурных факторов, влияющих на склонность материалов хрупкому разрушению, оценки масштаба и характера коррозионных поражений, выявление пылинок и рисок на полированных поверхностях полупроводниковых пластин, выявление царапин на поверхности объекта, исследования на наличие неметаллических включений, оценки натуральных цветов окрашенных объектов.
В данном случае непрозрачные материалы такие, как например, микроструктуры сплавов металлов, освещаются через специальную систему: кругового эпизеркала, установленного в корпусе объектива, и кольцевого зеркала в плоскости полупрозрачной пластины. С помощью данной системы кольцевой световой поток, для создания которого используется специальная диафрагма, минует основную оптику микроскопа.
Темный фон в данном случае указывает на высокое качество темного поля, а наличие светлых пятен или неравномерности говорит о дефектах объектива.
Так как метод темного поля реализуется совместно с методом светлого поля (объективы должны иметь маркировку BD), в микроскопах Альтами предусматривается крепление светоделительных элементов, чаще всего на салазках.
Среди микроскопов Альтами отраженного света для работы по методам светлого и темного поля присутствуют прямой микроскоп Альтами МЕТ 1Т, и инвертированные - Альтами МЕТ 3Т, Альтами МЕТ 5 и Альтами МЕТ 6.
* см. Металлографические микроскопы
