Металлографические исследования по методам светлого и темного поля в отраженном свете


Выбор микроскопа, и соответственно — методов микроскопии, зависит от того, какие объекты предполагается изучать и какими свойствами они обладают.

Основным методом исследования металлографического микроскопа является метод светлого поля в отраженном свете. Оптический микроскоп, предназначенный для данного метода наблюдения, позволяет исследовать непрозрачные, отражающие свет объекты, как например: травленые шлифы металлов или руд, разные минералы. В данном случае освещение объекта производится через объектив после того, как свет от источника поступает на отражательную сторону полупрозрачного зеркала. Затем, отразившись от объекта, свет снова проходит через объектив и полупрозрачное зеркало, которое в данном случае (в направлении оптической оси) его пропускает. Так как разные участки объекта по-разному отклоняют падающий на них свет, а отраженные лучи имеют различную интенсивность, на выходе будет получено достоверное изображение объекта.

Среди прямых металлографических микроскопов (наблюдательная часть над объектом*), работающих по данной оптической схеме, имеются Альтами МЕТ 3, Альтами МЕТ 5 и Альтами МЕТ 6, а среди инвертированных (наблюдательная часть под объектом) -  Альтами МЕТ 1 и Альтами МЕТ 2.

Металлографические микроскопы, реализованные для проведения исследований по методу светлого поля в отраженном свете, относятся к классу упрощенных микроскопов. Метод светлого поля является базовым для других методов контрастирования, и для их реализации в оптической схеме необходимо располагать контрастирующие элементы, как например: диафрагма, светофильтр, анализатор и поляризатор.

Более универсальные модели, как например, Альтами МЕТ 1Т, МЕТ 3Т, МЕТ 5Т, дают возможность наблюдать объекты дополнительно и в темном поле. Такие микроскопы более дорогие, но позволяют достичь максимально высоких и точных результатов исследований.

Темнопольная микроскопия является наиболее информативной, например, при исследовании неплоскостных, пористых объектов, выявлении структурных факторов, влияющих на склонность материалов хрупкому разрушению, оценки масштаба и характера коррозионных поражений, выявление пылинок и рисок на полированных поверхностях полупроводниковых пластин, выявление царапин на поверхности объекта, исследования на наличие неметаллических включений, оценки натуральных цветов окрашенных объектов.

В данном случае непрозрачные материалы такие, как например, микроструктуры сплавов металлов, освещаются через специальную систему: кругового эпизеркала, установленного в корпусе объектива, и кольцевого зеркала в плоскости полупрозрачной пластины. С помощью данной системы кольцевой световой поток, для создания которого используется специальная диафрагма, минует основную оптику микроскопа.

 

Метод темного поля в отраженном свете

 

Темный фон в данном случае указывает на высокое качество темного поля, а наличие светлых пятен или неравномерности говорит о дефектах объектива.

Так как метод темного поля реализуется совместно с методом светлого поля (объективы должны иметь маркировку HD), в микроскопах Альтами предусматривается крепление светоделительных элементов, чаще всего на салазках.

Среди микроскопов Альтами отраженного света для работы по методам светлого и темного поля присутствуют прямой микроскоп Альтами МЕТ 1МТ, и инвертированные - Альтами МЕТ 3МТ, Альтами МЕТ 5 и Альтами МЕТ 6.

* см. Металлографические микроскопы

Контакт-центр
preload form
Сюда мы пришлем подготовленные предложения в электронном виде
Чтобы мы знали, как к Вам обращаться
Спасибо, Ваше сообщение отправлено.
Мы работаем c 10:00 до 18:00 в будние дни.
Вы можете указать удобное для Вас время или просто подождать, Вам перезвонит первый освободившийся менеджер.
Чтобы мы знали, как к Вам обращаться
Спасибо, Ваше сообщение отправлено.
Для отправки уведомления о получении Вашего сообщения
Чтобы мы знали, как к Вам обращаться
Мы прилагаем массу усилий для того, чтобы сделать сервис удобным для Вас.
Нам очень приятно, что Вы нашли минуту, чтобы сказать нам - "Спасибо".
Спасибо, Ваше сообщение отправлено.
Для отправки уведомления о получении Вашего сообщения
Чтобы мы знали, как к Вам обращаться
Ваша жалоба поступит в отдел Заботы о клиентах и будет обработана в течение суток.
Спасибо, Ваше сообщение отправлено.
Чтобы мы могли связаться с Вами, если не получится воспроизвести проблему
Чтобы мы знали, как к Вам обращаться
Спасибо, что помогаете сделать сервис лучше.
Спасибо, Ваше сообщение отправлено.